镀金测厚仪器的有天瑞仪器。该型号使用全自动软件进行操作，能够进行多点测试，仪器和移动平台均由软件控制。配备有φ0.1mm的小孔准直器，能够满足微小测试点的需求；同时，它具有高的移动平台，重复定位小于0.005mm；采用高度定位的激光，能够自动设定测试高度；并且装配有高分辨率探头，确保分析结果更加准确。

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EDX600pro是一款具备高和多种功能的X荧光检测仪。它配备了一键测试按钮和高的X/Y移动滑轨，使得检测过程变得便捷迅速。根据不同产品的大小和材质，用户可以灵活更换适当的准直器和滤光片，以实现*测量。同时，该仪器能够进行元素成分分析、各种尺寸的异型涂层检测，以及符合ROHS指令的测试。

镀金测厚仪器有哪些？EDX-V是一款全新的测试仪，集成了过30年的X荧光膜厚测量技术研发，采用从上到下照射的X荧光测试方式，配备多导毛细管X射线光学系统。该仪器适用于无损分析，能够准确测量极微小部件上的镀层厚度，特别适合微米级尺寸的电子零件、芯片导线、晶圆微区等部件的镀层厚度及成分进行高效测量。

测量的元素包括从13号铝（Al）到92号铀（U）之间的所有元素。

检测能力：具备同时分析过五层涂层的能力，并可测定24种元素。

检出限：金属镀层的分析厚度可达到 0.005μm。

厚度范围：镀层的分析厚度一般不过 50 微米。

厚度测试的准确度低于5%。

测试的含量范围是0.1%到99.9%。

检测含量的准确度低于0.5%。

稳定性：重复测量的准确度可达1%。

检测时间为5到40秒。

探测器及其分辨率：140±5电子伏特的大窗口半导体锂铍探测器。

X射线设备：100W高功率微聚焦W靶管。

多通道分析仪：DMCA数字多通道分析技术，具备分析4096个通道的能力。

标配的准直器和滤光片尺寸为Φ0.2mm；可选配的孔径有0.1×0.2mm、Φ0.15mm、Φ0.3mm或其他尺寸，测试直径的铝或镍滤光片为Ф0.1mm。